SG-630M 芯片檢測顯微鏡

一．產(chǎn)品簡介

SG-630M芯片檢測顯微鏡采用了反射和透射兩種照明形式，本儀器造型新穎、性能良好、使用方便可靠，廣泛應用于應用于專為LCD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查，教學科研金相分析、地質礦物分析、精密工程測量等領域。也可應用于電子、光纖、紡織、印刷及微顆粒、粉末、同時也可用于食品安全評估、醫(yī)學研究地質研究等。

二．產(chǎn)品特點

1. 采用無限遠色差校正光學系統(tǒng)

2. 正像三通觀察筒，30°傾斜，極大的提高了觀察的舒適性與操作的適應性

3. 長工作距離明場平場物鏡，成像清晰銳利

4. 采用反射式柯拉照明系統(tǒng)，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明

5. 4寸大行程工作臺,機械平臺230x220mm，行程106mmx106mm，可快速移動

6. 光源采用寬電壓數(shù)字調光技術，具有光強調定與復位功能

7. SG-630M配置了數(shù)碼攝影系統(tǒng)，各種放大倍率，并由計算機對圖像進行各種處理、編輯、保存和輸出 (如打印等) 或進入多媒體系統(tǒng)及電子信箱

三．技術規(guī)格

1. 光學系統(tǒng)：無限遠色差校正光學系統(tǒng)

2. 觀察鏡筒：30°傾斜,鉸鏈式三目鏡筒，瞳距調節(jié)54mm-75mm;分光比100：0

3. 大視野平場目鏡：10×/22mm，視度可調 

4. 無限遠長工作距離金相物鏡

5. 轉換器：內定位5孔轉換器

6. 4寸移動平臺，行程106mmx106mm，玻璃載物臺板（透反射用）

7. 調焦機構：透反兩用機架，低手位粗微同軸調焦；粗調行程30mm，微調精度0.001mm，帶有防止下滑的松緊調節(jié)裝置和隨機上限位裝置

8. 照明系統(tǒng)：5WLED光源落射照明系統(tǒng)  ,5WLED透射光照明系統(tǒng) 

9. 適配鏡：直徑59mm,放大倍率0.5倍 ，內調焦距0～3mm 調焦后可鎖緊

10. 顯微鏡工業(yè)相機圖像傳感器采用Sony CMOS傳感器，像素630萬；芯片靶面：1/1.8"；像素點尺寸：2.4μmx2.4m；分辨率：3072 x 2048；幀率：30fps全分辨率；G光靈敏度：0.15mv-425mv;曝光時間: 0.1ms-15ms；光譜響應范圍：380-650nm(有紅外截止濾光片情況下)；掃描方式:逐行掃描；快門:電子快門；數(shù)據(jù)接口:USB3.0；白平衡:ROI 白平衡/手動調整。

11. 軟件功能：圖像顯示、圖像拍攝、錄像和圖象處理功能，可以對所攝圖像進行

文字編輯，比例尺顯示；超景深擴展；長度，角度，弧長測量；點，線，平行

線，垂直測量；圓、橢圓測量；矩形，不規(guī)則形狀的周長、面積、重心位置等

幾何參數(shù)量。

四.配置清單

1. 金相顯微鏡/1臺

2. 觀察鏡筒/1只（在主機上）

3. 10×目鏡/1對

4. 無限遠金相物鏡5×、10×、20×、50×、100×/各1只

5. 移動工作臺/1只（在主機上）

6. 專用適配鏡/1只

7. 顯微鏡工業(yè)相機/1只(630萬像素）

8. 校準尺0.01mm/1片

9. 產(chǎn)品合格證、保修卡及說明書/1份